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Dektak 8台阶式探针轮廓仪，结构紧凑，可提供很高的重复性和精度。的X–Y方向定位系统可移动到8x8inch区域的任何位置。它不仅能测量台阶高度和表面纹理，还能测量金属蚀刻速率的均匀性、焊点高度、纤维光学元件和显微透镜。全程程序控制的Dektak 8系统对于MEMS，纳米技术和半导体应用都非常方便。
主要特点：
1. 台阶高度测量重复性高
2. 是功能强大的探针轮廓仪，可限度的满足各种应用需要
3. 简单易用
4. 作为一款桌面型轮廓仪，扫描范围可达200mm
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