聚焦离子束电镜-仪器供应网

产品详情

■ 技术特点：

在更短时间内收集更丰富的信息

加快纳米断层成像和纳米加工的速度：将低电压 SEM 性能与高达 100 nA 的 FIB 束流相结合。

获取的信息：运用多探测器采集及同步刻蚀与成像能力。

使用 GEMINI 技术和可选配的 ATLAS 3D 软件包检测高达 50 k x 40 k 像素的大视野范围。

流程控制

在对环境条件要求苛刻的长时间实验中具备稳定性，并能够提供均匀一致的光束剖面。

采集时可以完成系统参数的实时更改，如探针电流或加速电压，而无需对图像进行调整。图形用户界面操作直观简便。

应用领域
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