奥林巴斯清洁度检测仪 CIX100-仪器供应网

产品详情

奥林巴斯CIX100检测系统是一个专门的交钥匙解决方案，适用于对所制造部件清洁度保持高质量标准要求的制造商。快速获取、处理和记录技术清洁度检测数据，以符合公司和国际标准的要求。该系统直观的软件可指导用户完成该过程的每个步骤，因此，即使是新手操作员，也可以快速轻松地获取清洁度数据。

奥林巴斯CIX100检测系统：简化技术清洁度

保证部件、工件和流体具有合格的清洁度是制造过程的核心所在。在对大多为微米级尺寸的污染物和异物进行计数、分析和分类的过程中达到高标准，对于最终产品的开发、制造、生产和质量控制等各种工作流程都至关重要。各种国际和国家指令对于如何确定基本加工零件上颗粒污染的方法和记录要求都有描述，因为颗粒污染会直接影响工件和部件的使用寿命。目前的标准要求提供有关污染性质的详细信息，如颗粒的数量、粒度分布和颗粒特性。

奥林巴斯CIX100清洁度检测系统旨在满足现代工业以及国家和国际指令对清洁度的要求。

标准的清洁度检测流程：准备（第1-3步）和检测（第4-6步）。第1步：提取，第2步：过滤，第3步：称重，第4步：检测，第5步：审核，第6步：结果。

简单、可靠

硬件和软件无缝集成，打造出一款可以提供可靠、准确数据的耐用型高效率系统。

易于设置的自动化、交钥匙解决方案

稳定的测量系统设置有利于提供可重复的结果

的光学性能和可再现的成像条件

自动化系统通过集成的校准装置进行自检

全系统集成，实现所有硬件部件的自动化控制

支持各种圆形和矩形样品架

通过直观的指导提高生产力

专用、简单的工作流程可z大限度地减少用户操作，并提供可靠的数据 - 与操作员和经验水平无关

借助便于使用的工具轻松修改检测数据

分步指导可提高生产率，并缩短检测时间

用户权限管理可限制功能，以尽量减少人为错误

触摸屏显示大尺寸按钮，容易点击

符合要求的一键式报告，实现高效的文件记录

所有数据均自动保存，并可轻松导出和共享

采用可选材料分析解决方案的独立显微镜模式

快速实时分析

创新的一体化扫描解决方案检测反光（金属）和非反光颗粒的速度是需要两幅独立图像的传统方法的两倍。即时反馈颗粒计数和颗粒分类的信息可帮助您快速做出决策。

用于快速识别滤膜范围、颗粒簇或最差粒子的概览图像

对2.5 µm至42 mm范围内的污染物颗粒进行自动实时处理和分类

高效：系统在一次扫描中检测反光和非反光颗粒

实时分析使您能对结果做出实时反应

可根据选定的行业标准定制符合要求的结果

有效的数据评估

借助强大的、易于使用的工具修改检测数据，支持公司和国际清洁度检测标准。清晰呈现所有相关的检测结果，节省时间。

图像和数据的有组织排列，使数据审核效率更高

可选择各种视图，立即识别颗粒

颗粒位置和缩略图链接到实时图像

轻松地对检测数据进行重新分类、审核、修改和重新计算

实时显示整体清洁度代码、颗粒和分类表

趋势分析，以确定随时间推移而出现的潜在的测量偏差

在一个视图中显示完整的检测数据

创建合规报告

一键式报告制作方式符合国际标准中阐述的要求和方法。报告可以定制（例如，包括颗粒形态），从而可轻松满足不同公司的特定标准。

使用预定义的合规模板生成专业报告

可轻松调整模板和报告，以满足行业和公司的规定

支持各种输出格式，包括MS Word和PDF

报告文件大小经过优化，轻松进行结果共享

长期数据存储，使您可以在多年后证明决策的合理性

硬件

显微镜	奥林巴斯CIX100	电动聚焦	同轴电动精细聚焦，使用3轴操纵杆聚焦行程：25 mm 精细行程：100 µm/周载物台托架的安装高度：40 mm 聚焦速度：200 µm/s 可启用软件自动聚焦功能自定义的多点聚焦图
		照明	内置LED照明灯创新型照明机制，可同时探测到反光颗粒和非反光颗粒光照强度可由软件控制
		成像设备	彩色CMOS USB 3.0摄像头芯片上的像素尺寸为2.2 µm × 2.2 µm
		样品量	• 标准样品是一个直径为47 mm的滤膜。可为直径为25 mm或55 mm的滤膜提供托架，还可提供定制样品托架。
物镜转换器	电动式	电动物镜转换器	6孔电动物镜转盘，已安装了3个UIS2物镜 PLAPON 1.25X，用于预览 MPLFLN 5X，用于探测大于10 µm的颗粒 MPLFLN 10X，用于探测大于2.5 µm的颗粒
物镜转换器	电动式	由软件控制	图像放大倍率，以及像素与尺寸之间的关系可清晰显示测量时可选定物镜，软件可自动进行物镜定位
载物台	电动X、Y轴载物台	电动X、Y轴载物台	步进电机控制运动范围：130 × 79 mm 移动速度：240 mm/s（4 mm滚珠螺距）可重复性：< 1 µm 分辨率：0.01 µm 可通过3轴操纵杆控制
	电动X、Y轴载物台	由软件控制	扫描速度取决于所使用的放大倍率，使用10x放大倍率时，扫描时间不到10分钟载物台对齐校准由工厂在装配时完成。
	标本架	样品架	滤膜托架经过专门设计，可避免在安装过程中滤膜发生意外转动滤膜托架通过机械方式将滤膜压平无需工具即可固定盖子用于直径为25 mm、47 mm和55 mm的滤膜的样品托架用于颗粒捕集器、颗粒捕集器耗材和胶带提取法采样的样品托架
	标本架	颗粒物标准片（PSD）	用于验证系统测量准确性的参考样品核查系统内置功能的样品，用于对CIX系统的正常功能进行控制 PSD只能使用载物台上的第2个插槽
	载物台插槽	2位载物台插槽	载物台插槽专用于正确定位样品托架和PSD
控制器	工作站	高性能预安装工作站	HP Z4G4，Windows 10-64位专业版（英文版） 16 GB RAM、256 GB SSD和4 TB数据存储 2 GB视频适配器已安装Microsoft Office 2019（英文版）网络功能、英文全键盘、1000 dpi的光电鼠标
		插件板	电动控制器、RS232串行和USB 3.0
		语言选择	操作系统和Microsoft Office的默认语言可由用户更改
	触摸显示屏	23英寸纤薄屏幕	分辨率：11920 × 1080，为配合CIX软件使用而优化
电源		额定值	AC适配器（2个）、控制器和显微镜架（需要4个插头）输入：100-240V AC 50/60Hz，10 A
电源		功耗	控制器：700 W；显示器：56 W；显微镜：5.8 W；控制盒：7.4 W 总计：769.2 W
图纸		尺寸（宽 × 厚 × 高）	约1300 mm × 800 mm × 510 mm
图纸		重量	44 kg

系统对环境的要求

常规使用	温度	10 °C ～ 35 °C
常规使用	湿度	30% ～ 80%
根据安全法规	环境	室内使用
	温度	5 ℃至40 ℃
	湿度	80%（温度不高于31 °C时）（无冷凝）当温度上升到31 °C以上时，适用的湿度会呈线性下降 70%（34 °C）至60%（37 °C）至50%（40 °C）
	海拔高度	2,000米
	水平度	为±2°
	电源和电压稳定性	±10%
	污染等级（IEC60664）	2
	总体电压类别（IEC60664）	II类

软件

软件	CIX-ASW-V1.5	技术清洁度检测的专用工作流程软件
语言	图形用户界面	图形用户界面：英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语
语言	在线帮助	在线帮助：英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语
许可证管理		软件许可证通过许可证卡片激活（安装时已激活）
用户管理		系统可以连接到网络进行域管理可用功能范围根据经过身份验证的用户而选择。
实时图像	以彩色模式显示	金属颗粒用蓝色分析，非金属颗粒用原色分析。
	窗口适应法	图像总是以全视图形式显示
	实时探测	颗粒一经捕获就会探测出来，以提高速度如果测量结果不理想，用户可以中止探测过程。
	实时分类	探测到颗粒后，立即对颗粒进行分类。在实时采集过程中，可在用户界面上识别颗粒所属的大小等级。
	显微镜模式	可以进入显微镜模式进行显微成像。提供可选配的材料分析解决方案（不是标配）。
图像捕获和手动测量	收集用户快照	不仅可在实时观察模式下（从实时图像）或样品查看模式下（从记录的数据）捕获图像，也可以在审核模式下，捕获样品上任何位置的单个图像可使用1000 × 1000像素的标准分辨率，将图像存储为.tif、.jpg或.png文件快照可以与探测到的颗粒相关联，并在之后的分析报告中使用颗粒快照可以在景深扩展成像（EFI）模式下自动获取在EFI模式下获取的图像可用在分析报告中
图像捕获和手动测量	手动测量	可以在获得的快照上对任意距离进行测量可为任意测量项目重新命名，可以对颜色进行重新着色任意测量值和刻度线在存储时都会被刻录在图像中
硬件控制	XY电动载物台	操纵杆操作和由软件控制检测圆形和矩形的样品区域在所选颗粒上以自动或手动方式重新定位
	电动物镜转换器	仅可通过软件选择
	电动聚焦	通过操纵杆控制提供软件自动聚焦功能使用多点聚焦图进行预测性自动对焦
检查系统	系统验证	通过测量颗粒物标准片的参数对系统进行验证。生成OK（合格）或NOK（不合格）的质量判定结果
检查系统	可选物镜	对系统的检查只能使用工作物镜完成（至少应选择一个物镜）可以使用5X或10X物镜，或使用这两种物镜对系统进行检查
技术清洁度标准	支持标准	ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、ISO 4407:2002 [累积和差分]、ISO 11218:1993、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007（A、N和V）、ISO 16232:2018（A、N和V）、ISO 21018:2008、DIN 51455:2015 [70%和85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2011、VDA 19.1:2015（A、N和V）、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21
	精确符合VDA19:2016的建议	阈值自动设置为VDA建议使用的值
	颗粒种类识别	颗粒可按颗粒种类分类（纤维、反光、反光纤维或其他）
	自定义标准	用户可以非常容易地自行定义标准根据DT 55-83，颗粒测量参数包括丝状粒径和致密粒径
	检测配置	该系统可使用户加载、定义、复制、重命名、删除和保存检测配置还可以存储和调用标准和报告模板可以反转探测阈值，以探测到暗背景上的亮颗粒可以在一个序列中采集多个样品每个样品都可以使用特定的配置进行检测
颗粒平铺视图	以平铺形式显示探测到的颗粒，提高了导航效率	双击平铺视图可以检索每个颗粒的位置每个平铺视窗都与实际颗粒大小相适应
保存完整的滤膜	存储完整的滤膜	离线分析可使用户选择不同的标准来显示结果
数据导出	保存数据	检测数据可被导出到Excel（.xlsx）表格中软件中所有可用的表格也可以导出到Excel中
趋势分析	多个样品的趋势分析（内置SQC工具）	可以按大小等级显示数据可以按时间、样品、测量ID将数据绘制成图可以选择比例（对数-正态，对数-对数）数据点可被提取并导出到电子数据表格中可以使用Q-DAS（.dfq）格式导出表格；软件中的所有表格也可以导出到Excel中
颗粒编辑	可在修改过程中对颗粒进行编辑。	可进行以下操作：使用直线或折线添加、删除、合并或拆分颗粒更改颗粒类型
动态报告	可通过使用Microsoft Word 2019制作专业分析报告	模板是可自定义的用户在选择不同的颗粒种类时，可以选择将图片放在表格后面，或者将所有图片放在一起

可选配解决方案CIX-S-HM

高度测量

对选定颗粒进行自动或手动高度测量

可选配的软件解决方案，可以使电动聚焦驱动功能对所选颗粒自上到下自动聚焦。然后通过计算颗粒在Z轴上顶部和底部相差的距离得出颗粒的高度。
包含1个附加物镜（20X MPLFLN）和一个需要在安装时激活的许可证卡片。
可以在多个位置选择多个颗粒进行自动高度测量。

环境法律和法规

欧洲	低电压指令2014/35/EU
	EMC指令2014/30/EU
	RoHS指令2011/65/EU
	REACH法规，编号1907/2006
	包装和包装废弃物指令94/62/EC
	欧盟WEEE指令2012/19/EU
	机械指令2006/42/EC
美国	UL 61010-1:2010，第3版
美国	FCC 47 CFR，第15部分，分项B
加拿大	CAN/CSA-C22.2（No.61010-1-12）
澳大利亚	1992年无线电通信法、1997年电信法
澳大利亚	节能条例AS/NZS 4665-2005
日本	电器和材料安全法（PSE）
韩国	电器安全控制法
	关于能效标签和标准的条例
	关于EMC和无线通信的条例（第2913-5号通知）
中国	中国RoHS
	中国PL法
	有关手册的条例